測厚儀對試樣覆層厚度進(jìn)行測試期間須符合條件主要包括這些地方

，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中前五種是有損檢測，丈量手段繁瑣，速度慢，多合用于抽樣檢修,而本公司生產(chǎn)經(jīng)營的TM-8819-T6T系列多模式超聲波測厚儀

、CM-8825系列涂層測厚儀很好的解決了這方面缺陷。

X射線和β射線法是無接觸無損丈量

，但裝置復(fù)雜昂貴，丈量范圍較小。因有放射源，使用者必需遵守射線防護(hù)規(guī)范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層丈量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。 跟著技術(shù)的日益提高，特別是近年來引入微機(jī)技術(shù)后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一步。丈量的分辨率已達(dá)0.1微米，精度可達(dá)到1%，有了大幅度的進(jìn)步。它合用范圍廣，量程寬、操縱簡便且價廉，是產(chǎn)業(yè)和科研使用較廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行丈量原理與儀器 。

電渦流測厚儀丈量原理 :

高頻交流信號在測頭線圈中產(chǎn)生電磁場，測頭靠近導(dǎo)體時

，就在其中形成渦流。測頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y頭與導(dǎo)電基體之間間隔的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。因?yàn)檫@類測頭專門丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測厚儀測頭。非磁性測厚儀測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測厚儀一樣，渦流測厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，答應(yīng)誤差1%，量程10mm的高水平。

采用電渦流測厚儀原理的測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可丈量

，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可丈量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。固然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)仍是采用磁性原理丈量較為合適。

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